В информационном центре по атомной энергии в городе Санкт-Петербург прошёл семинар, инициирован Управлением научных исследований СПбГТИ(ТУ), по теме: «Эволюция лабораторных рентгеновских систем: источники, детекторы и области применения». В семинаре приняли участие преподаватели, студенты и аспиранты Технологического института.

Специалистами компании «Technoinfo» были представлены новые приборы и разработки для точных исследований тонких структур различных материалов с помощью рентгеновских лучей.

Метод основан на получении и анализе дифракционной картины, возникающей в результате интерференции рентгеновских лучей, рассеянных электронами атомов облучаемого объекта. Эта картина определяется помимо атомной и электронной структуры изучаемого объекта, еще и характеристикой рентгеновского излучения. Рентгенодифракционный анализ позволяет анализировать поликристаллические и монокристаллические объекты, как в виде объемных материалов, так и в виде тонких пленок. Для каждого из этих двух типов материалов имеется определенный набор параметров, определяемых с помощью рентгенодифракционного анализа.

Тадеуш Скаржинский в подробностях рассказал о новых открытиях и изобретениях, детально остановившись на обзоре нового аппарата системы SuperNova, спроектированной на основе двух микро-источников рентгеновского излучения высокой интенсивности с низким значением потребляемой мощности.